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XRD 物相分析与结晶度测定

XRD 物相分析与结晶度测定

仪器型号

Bruker D8 Advance X 射线衍射仪

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常规周期

2-3 个工作日

样品方式

需要寄样

满意度

100%

测试内容:10-80°(2θ)常规物相扫描,可扩展小角、织构与变温附件;物相检索基于 PDF 标准卡片库并给出匹配度。 适用对象:无机粉体、陶瓷、催化剂、电池正负极材料与薄膜样品的物相鉴定。 交付内容:CMA/CNAS 报告 + RAW/xy 原始数据 + 检索结果与结晶度计算过程。

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